品牌：PVA（德国）

Scanning Acoustic Microscope（型号：SAM 302） 

 以上设备外形为标准机台，将随客户具体配置要求略有变化

 左右并列双探头                                         前后排列双探头

超声扫描显微镜利用材料内部组织因密度不同而对超声波声阻抗、超声波吸收与反射程度产生差异的特点，从而实现对材料内部缺陷的定性分析，在半导体封装及材料等行业中得到广泛应用。可分辨出材料、元器件内部的裂纹、空洞、气泡、分层缺陷、杂质等；广泛用于测试各种元器件、SMT焊接器件、IGBT器件、MEMS器件、晶圆键合等内部缺陷的无损检测，是提供高分辨率且无损检测的重要手段，和X-Ray, 电镜等为互补检测手段。双探头扫描设备可成倍提高检测效率，且只需1名操作人员，节省人力成本。