产品介绍 Product introduction

1. 系统能满足各种封装形式的Si/SiC/GaN 材料的IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR等器件的HTRB 试验。
2. 试验线路及试验方法满足JESD22-101、MIL-STD-750Method 1038及AEC-Q101、GJB128A等试验标准要求。

技术特点 Technical characteristics

1. 数据库加载导入，自动完成试验过程，方便操作使用;
2. 被试器件DUT老化电源采用分区统一供给，程控方式;
3. 实时监控每个器件的漏电流IR，可输出试验报表并描绘出完整的变化曲线;
4. 系统具有数据自动备份功能，意外断电数据不会丢失;
5. 可根据用户的需求，定制各种老化板及测试程序。